«Оцінка параметрів надійності компонентів електроніки при відбракуванні за допомогою кластеризації з вейвлет-перетворенням». Інформатика. Культура. Техніка 2 (Листопад 5, 2025): 23–27. дата звернення Квітень 29, 2026. https://ict.od.ua/index.php/journal/article/view/7.